2020年度 先端分析設備活用講演会・電顕セミナーⅠ

近年の高度な技術的課題や厳密な品質管理への迅速な取り組みにおいて、先端分析設備の果たす役割がますます重要になってきています。当設備共用部門では、先端分析設備の計画的な整備・更新を行うと共に、広く学内外のみなさまにご活用いただけるよう活動しています。
本講演会では、ナノスケールの構造解析に関する研究事例についてご講演いただくとともに、本学先端設備の学外向け受託試験について紹介いたします。活用講演会後には続けて電顕セミナーⅠ「電子顕微鏡用軟X線分光器の応用事例の紹介」と題しまして、装置メーカーより講師を招きセミナーを開催いたします。
なお、今回はコロナ禍ということで、当設備共用部門の各種設備をご覧いただく設備見学会は行いませんが、設備の見学をご希望される方へは別途個別に見学会を行います。併せて、受託試験のご相談等もお受けいたしますので、お申し込み時にお知らせ下さい。
みなさまの教育・研究・開発・企業経営に当設備共用部門をご活用いただく契機として、本講演会・セミナーへのご参加をお待ちしています。

チラシ(pdf)

プログラム

日 時:2021年3月19日(金)13:30 ~ 16:00
場 所:Microsoft Teamsを用いたオンライン開催
参加費:無料

13:30 ~ 13:35
挨拶
名古屋工業大学産学官金連携機構長 江龍 修

13:35 ~ 14:30
先端分析設備活用講演「透過型電子顕微鏡による結晶方位解析・マッピングシステム」
名古屋工業大学大学院工学研究科 森谷 智一

14:30 ~ 14:45
「産学官金連携機構設備共用部門受託試験のご案内」 

14:45 ~ 15:00
休憩

15:00 ~ 15:40
電顕セミナーⅠ「電子顕微鏡用軟X線分光器の応用事例の紹介」
日本電子株式会社表面分析事業ユニット 高橋 秀之 氏
アブストラクト(pdf)

15:40 ~ 16:00
質疑応答

お申し込み

※申し込み受け付けは終了いたしました。多数ご参加頂き誠にありがとうございました。