平成30年度 国立大学法人名古屋工業大学機器分析技術講習会参加者募集のお知らせ （申し込み期限 12月28日）【募集は終了いたしました】
更新日：2018-07-11
名古屋工業大学産学官金連携機構設備共用部門の所有設備を活用して下記のように講習会を開催します。本講習会は、一般企業及び教育研究機関の技術者並びに研究者を対象とし、各種の機器・分析装置に関する講習を通じて設備共同利用の拡大を目的としています。コース・テーマ・概要は以下の通りですが、少人数体制で行いますので、日程や内容（使用する試料や測定法など）についてもご要望があれば可能な限り対応いたします。またこの講習会を通じて、相互に新たな知識や技術を習得することも目的のひとつです。この機会にぜひご参加いただきますようご案内申し上げます。
各コースのご案内
Ａコース 「有機化合物の構造解析」
ＣＨＮ元素分析装置、質量分析装置、核磁気共鳴装置を用いて未知の有機化合物の構造解析を行い、これらの装置の基礎的なデータ解析技術の習得を目標とする。
Ｂコース 「溶液ＮＭＲにおけるＮＯＥＳＹの習得」
空間的に近い距離にある原子核同士の相関や化学交換を観測するための溶液NMR二次元測定であるNOESYの測定条件の設定、データ解析技術の習得を目標とする。NOESYを正しく測定するために必要な90度パルス測定、縦緩和時間測定についても合わせて習得する。
Ｃコース 「Ｘ線光電子分光法による深さ方向分析と帯電補正の試み」
Ar イオンスパッタリングによるシリコン酸化膜の深さ方向分析を行い、エッチングレイトを求める。絶縁体試料を用いチャージアップ(帯電）状態の測定結果と帯電補正した測定結果を比較する。
Ｄコース 「AESによるIC断面の分析」
集積回路（IC）の切断表面をCP（Cross-section Polisher）で研磨処理した試料を用いて、AESによる多点分析や元素マッピングの習得を目標とする。
Ｅコース 「MALDI-MSを用いたポリマーのKMD解析」
ポリマーのマススペクトルをMALDI-MS測定により取得し、得られたマススペクトルを Kendrick Mass Defect （KMD）解析する作業を行う。
Ｆコース 「FIBを用いたTEM観察試料の作製」
FIB を使用しバルク状の試料から薄片を切り出した後、ピックアップシステムにて試料片を取り出しTEM 観察を行う一連の作業の研修を行う。
使用設備
開催期間・日程それぞれのコースについて、受講申込受付後、各コース担当者から受講を希望される方へ連絡し、
7月~12月の間で日程・カリキュラムを調整します。
【会 場】
1.A~Eコース 国立大学法人名古屋工業大学鶴舞キャンパス 22号館（名古屋市昭和区御器所町）
2.Fコース 国立大学法人名古屋工業大学先進セラミックス研究センター（岐阜県多治見市旭ヶ丘10-6-29）
【受講資格】
一般企業並びに国立大学法人等に勤務し機器・分析装置を取り扱っている、もしくはこれから取り扱う予定の技術者、研究者の方で、設備共同利用を検討されている方、並びに機器・分析装置について専門的知識・技術等を修得したい方を対象とします。ただしＡコース、ＢコースはNMRを使用するためペースメーカー使用者は受講できません。
【募集定員】
各コース それぞれ若干名
【受講料】
(1) 講習に直接要する経費は、国立大学法人名古屋工業大学が負担します（無料）。
(2) 会場までの旅費・宿泊費は、受講者の所属する機関でご負担ください。
(3) 昼休みを挟む場合には、昼食は各自でご用意ください。
【申込期間】
平成30年7月2日（月）～12月28日（金）
【申し込みおよびお問い合わせ先】
産学官金連携機構設備共用部門 事務室 担当：宮本 朋子
E-Mail：oogata-jim
＊アドレスの末尾に@adm.nitech.ac.jp を補完してください
TEL：052-735-5533
| コース | 担当者 | 装置名 | 型番 | メーカー |
| Ａ | 谷山 八千代 | 元素分析装置 | vario EL cube | エレメンタール |
| Ａ | 石川 敬直 | 質量分析装置 | GCT Premier | ウォーターズ |
| Ａ | 瀧 雅人 | 核磁気共鳴装置 | AVANCEIII 500 CryoProbe ECZ700R |
Bruker Biospin JEOL RESONANCE |
| Ｂ | 瀧 雅人 | 核磁気共鳴装置 | AVANCEIII 500 CryoProbe ECZ700R |
Bruker Biospin JEOL RESONANCE |
| Ｃ | 森口 幸久 | X線光電子分光分析装置 | PHI5000 VersaProbe | アルバック・ファイ |
| Ｄ | 塚田 究 | オージェ電子分光装置 | JAMP-9500F | 日本電子 |
| Ｅ | 石川 敬直 | 質量分析装置 | JMS-S3000 | 日本電子 |
| Ｆ | 石原 真裕 | 透過型電子顕微鏡 | JEM-2100 | 日本電子 |
| 石原 真裕 | 複合ビーム加工観察装置 | JIB-4500 | 日本電子 |